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平成27年度 第7回AMICセミナー「先端評価分析技術のご紹介」開催のご案内
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AMIC_News登録の皆様

貴社、益々ご繁栄のこととお喜び申し上げます。
平素は、AMICの運営にあたり格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。
このたび、下記のとおり「平成27年度 第7回AMICセミナー」を開催いたします。
【概要】今回は「先端評価分析技術」をテーマとして、未踏の光「テラヘルツ
波」による非破壊検査や、同じく非破壊で金属や電子部品等の内部の微細構造を
観察出来るマイクロフォーカスX線検査技術についてご講演頂きます。さらに、
名古屋大学 超高圧電子顕微鏡施設での高性能電子顕微鏡によるナノ材料の観察
・分析技術についてご紹介頂きます。
皆様の多数のご参加をお待ちしております。

■日時:平成27年11月30日(月) 14:00〜17:10
■場所:三重県産業支援センター・高度部材イノベーションセンター1階PRホール
    (三重県四日市市塩浜町1-30)

  ■プログラム:
○講演:「テラヘルツ波を用いた非破壊検査の可能性」
  名古屋大学 大学院工学研究科電子情報システム専攻 教授 川瀬 晃道 氏
○講演:「研究開発・故障解析をサポートする最新のX線技術
         〜inspeXio SMX-225CT FPDのご紹介〜」
           株式会社島津製作所 分析計測事業部 大河内 宏和 氏
○講演:「高性能電子顕微鏡によるナノ材料の観察・分析技術
    〜ナノテクノロジープラットフォームの支援事業の紹介〜」
     名古屋大学 未来材料・システム研究所 超高圧電子顕微鏡施設
             共用推進コーディネータ 特任教授 春日部 進 氏

■参加費:無料
■お申し込み:参加申込書をダウンロードし記入のうえ、FAX又はE-mailにて、
 11月27日(金)までにお申し込みください。
■参加申込書
  【PDF版】
 URL:http://www.miesc.or.jp/amic/seminar/H27/151130_moushikomi.pdf
 【WORD版】
 URL:http://www.miesc.or.jp/amic/seminar/H27/151130_moushikomi.doc
■平成27年度 第7回AMICセミナー ホームページ
 URL:http://www.miesc.or.jp/amic/seminar/H27/151130_semi_info.htm
■問い合わせ先:
 高度部材イノベーションセンター 事務局(菊田、熊澤)
 TEL:059-349-2205  FAX:059-349-2206
 E-mail:amic-moushikomi@miesc.or.jp

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----発信元:高度部材イノベーションセンター:059-349-2205-----

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