平成27年度 第7回AMICセミナーのご案内
〜先端評価分析技術のご紹介〜

   三重県産業支援センター・高度部材イノベーションセンター(AMIC)では、「交流」・「連携」によりイノベーションを誘発するとのコンセプトにもとづき、各種セミナーを開催しています。今回は「先端評価分析技術」をテーマとして、未踏の光「テラヘルツ波」による非破壊検査や、同じく非破壊で金属や電子部品等の内部の微細構造を観察出来るマイクロフォーカスX線検査技術についてご講演頂きます。さらに、名古屋大学 超高圧電子顕微鏡施設での高性能電子顕微鏡によるナノ材料の観察・分析技術についてご紹介頂きます。皆様の多数のご参加をお待ちしております。

プログラム

(1) 開会挨拶 (14:00〜14:10)


(2) 講演:「テラヘルツ波を用いた非破壊検査の可能性」 (14:10〜15:20)

名古屋大学 大学院工学研究科電子情報システム専攻 教授 川瀬 晃道 氏

【概要】光と電波の谷間に残された未踏の光「テラヘルツ波」を用いた新技術に関する研究が世界的に進展しており、郵便や衣服に隠された覚醒剤・爆発物の検査、薬局での処方箋ミスのチェック、プラスチック・セラミクス製品の内部欠陥診断、などへの応用が期待されています。

(休憩    15:20〜15:30)

(3) 講演:「研究開発・故障解析をサポートする最新のX線技術
                                             〜inspeXio SMX-225CT FPDのご紹介〜」
(15:30〜16:20)

株式会社島津製作所 分析計測事業部 グローバルマーケティング部
プロダクトエキスパートグループ 大河内 宏和 氏

【概要】マイクロフォーカスX線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例を豊富に取り上げ解説致します。アルミダイカストから、電機電子部品等の内部三次元構造評価、製造検証、最新機器を使った幅広い分野での観察応用事例をご紹介します。また、inspeXioSMX-225CT FPDの仕様・特長も説明致します。

(4) 講演:「高性能電子顕微鏡によるナノ材料の観察・分析技術
                                             〜ナノテクノロジープラットフォームの支援事業の紹介〜」
(16:20〜17:00)

名古屋大学 未来材料・システム研究所 超高圧電子顕微鏡施設
共用推進コーディネータ 特任教授 春日部 進 氏

【概要】超高圧電子顕微鏡施設では高性能電子顕微鏡群および種々の観察試料作製装置を保有し、金属・セラミックス・半導体・生物組織の観察、触媒の特性発現・劣化機構の解明など、幅広い分野で電顕観察支援事業を実施しています。技術開発の鍵となる材料評価手段として、その観察実施例とサポート体制を紹介いたします。

(5) 連絡事項 及び 閉会挨拶 (17:00〜17:10)

 

参加申込み

  • ◇申込方法:参加申込書にご記入のうえ、FAX(059-349-2206)または、Eメール(amic-moushikomi@miesc.or.jp)でお申し込みください。
  • ◇添付ファイル
            開催チラシ
            参加申込書【PDF版】
            参加申込書【Word版】※ブラウザにより開く際に時間が掛かる場合があります。
  • ◇ 申込期限:平成27年11月27日(金)
  • ◇ 参 加 費:無 料  
  • ◇ 定     員:80名(申込み先着順)
  • ◇お問い合わせ先◇
  • 公益財団法人三重県産業支援センター 北勢支所(高度部材イノベーションセンター)
       事務局 菊田・熊澤
       TEL:059-349-2205  FAX:059-349-2206  E-mail:amic@miesc.or.jp